導入
光学部品の表面欠陥は、光学システムのパフォーマンスに重大な影響を与える可能性のある局所的な欠陥です。一般的な欠陥には、傷、穴、気泡、バリ、欠けたエッジなどがあります。これらの欠陥は、ISO 10110-7、GB/T 1185-2006、MIL-PRF-13830B などのいくつかの国際規格および国内規格によって規定されています。これらの欠陥の評価と管理は、光学パフォーマンスを保証するために重要です。次のセクションでは、さまざまな種類の欠陥、それらの分類方法と検査方法、およびそれらの評価に使用される関連する業界規格について説明します。
光学部品の表面欠陥の種類
傷
これらは光学部品の表面にある細い傷や擦り傷で、組み立て中や製造工程中の偶発的な損傷によって生じることが多いものです。傷は光に非常に敏感で、光の反射、屈折、透過に重大な影響を与える可能性があります。
ピット
表面に小さなくぼみが形成されます。これは多くの場合、製造中に研磨粉や研磨剤を不適切に取り扱うことによって発生します。このくぼみは光の正常な伝播を妨げます。
バブル
製造工程中に材料内に閉じ込められたガスによって気泡が発生し、表面に円形または楕円形のくぼみができ、光学性能が低下します。
バーズ
機械加工時に鋭い突起が形成され、光が散乱し、光学部品の透過率が低下します。
欠けたエッジ
光学部品のエッジに沿った損傷または凹凸。通常は不適切な切断または研磨によって発生します。欠けたエッジは光のエッジ効果に影響を及ぼし、光学システムのパフォーマンスに影響を及ぼします。
その他の欠陥
これらには、斑点、へこみ、浸食、溝などがあり、多くの場合、過度の機械的ストレス、高い研磨速度、または研磨パッドの柔軟性によって発生します。
光学部品の表面欠陥の種類
ISO 10110-7:2008
この国際規格は、光学部品およびシステムの表面欠陥に対する許容要件を規定しています。表面欠陥を分類し、その表現方法を定義し、検査および評価の基準を提供します。
GB/T 1185-2006
この中国の国家規格は、光学部品の表面欠陥を評価する方法を概説している。この規格では「N×A」という表記が用いられており、 いいえ 許容される欠陥の数を表し、 あ 欠陥のサイズを表します。また、さまざまなレベルの欠陥と、それに対応する検査方法および受け入れ条件の要件も指定します。
MIL-PRF-13830B
この米国軍規格は、射撃管制装置に使用される光学部品の製造、組み立て、検査に関する技術仕様を定めています。表面欠陥は、傷には「S」、凹みには「D」という 2 種類の数値表記を使用して分類されます。この表記は GB/T 1185-2006 規格の表記と似ていますが、MIL-PRF-13830B では傷や凹みのサイズに重点が置かれています。
表面欠陥の検査方法
中国規格(GB/T 1185-2006)
検査は、36V、60W~108Wの白熱灯と4倍~10倍の拡大鏡を使用して、黒い背景に対して透過光または反射光を使用して行われます。
ロシア標準
検査には 60W ~ 100W の白熱灯が使用され、倍率は検査対象の光学面に応じて異なります。
MIL-PRF-13830B
次の 2 つのメソッドが定義されています。
- ガラスの背後に 40W のライトを置き、ガラスの暗い横縞を使用してコントラストを保ちながら、コンポーネントを曇りガラスに対して観察します。
- 曇りガラスを透過した光を使用して、黒い背景で部品を観察します。
表面欠陥と光学性能への影響
表面の欠陥は、光学システムの全体的なパフォーマンスに直接影響を与える可能性があります。傷、穴、その他の欠陥は光の散乱を引き起こし、透過効率を低下させ、光学収差を増加させます。高精度の光学システムでは、小さな欠陥でも画像の品質と精度が大幅に低下する可能性があります。たとえば、望遠鏡やレーザー システムでは、傷によって不要な回折が発生し、解像度や焦点が低下する可能性があります。さらに、気泡や欠けなどの欠陥によって波面が歪んで、カメラや顕微鏡などの画像システムの鮮明度に影響する可能性があります。
これらの問題を軽減するために、メーカーは厳格な品質管理措置を適用し、欠陥が許容範囲内に収まるようにしています。特定の欠陥が光学性能にどのように影響するかを理解することで、エンジニアはより回復力のあるシステムを設計し、製造中にエラーが発生する可能性を減らすことができます。
表面欠陥検出の先進技術
光学技術の進歩により、表面欠陥を検出する新しい方法が登場しました。これらの技術には、自動光学検査 (AOI)、干渉法、表面欠陥の高解像度画像を提供する高度な顕微鏡技術などがあります。
自動光学検査(AOI): AOI システムは、高解像度カメラと画像処理アルゴリズムを使用して、人間の介入なしに光学表面の欠陥を検出します。これにより、欠陥検出の精度と一貫性が向上します。
干渉計: 干渉計は、表面から反射する光波の干渉パターンを測定することで、ナノメートル スケールの表面欠陥を検出できます。この方法は、標準的な検査技術では検出できない可能性のある小さな表面の凹凸を検出するのに特に役立ちます。
高度な顕微鏡検査: 原子間力顕微鏡 (AFM) や走査型電子顕微鏡 (SEM) などの技術を使用すると、欠陥を顕微鏡レベルで分析し、欠陥の構造、深さ、表面への影響についての洞察を得ることができます。
これらのテクノロジーは、検出プロセスを改善するだけでなく、製造業者が詳細なレポートやフィードバック システムを作成して生産プロセスを強化し、欠陥の発生を減らすのにも役立ちます。
結論
光学部品の表面欠陥は、光学システムの性能を著しく損なう可能性があります。したがって、これらの欠陥を評価および管理するには、厳格な基準とガイドラインが不可欠です。検査技術が進歩するにつれて、光学部品の製造と品質管理において、より効率的で正確な表面欠陥検出方法が継続的に導入されるでしょう。