Компания Chinalens Optics станет вашим самым надежным производителем оптической продукции в ближайшие 10 лет.

Понимание поверхностных дефектов оптических компонентов и соответствующих стандартов

Введение

Поверхностные дефекты оптических компонентов — это локализованные несовершенства, которые могут серьезно повлиять на производительность оптической системы. К распространенным дефектам относятся царапины, ямки, пузыри, заусенцы и сколы на краях. Эти несовершенства регулируются несколькими международными и национальными стандартами, такими как ISO 10110-7, GB/T 1185-2006 и MIL-PRF-13830B. Оценка и контроль этих дефектов имеют решающее значение для обеспечения оптических характеристик. В следующих разделах рассматриваются различные типы дефектов, как они классифицируются и проверяются, а также соответствующие отраслевые стандарты, используемые для их оценки.

Типы поверхностных дефектов оптических компонентов

Царапины

Это узкие следы или потертости на поверхности оптического компонента, часто вызванные случайным повреждением во время сборки или производственного процесса. Царапины очень чувствительны к свету и могут серьезно повлиять на отражение, преломление и пропускание света.

Ямы

Небольшие углубления, образующиеся на поверхности, часто из-за неправильного обращения с полировальным порошком или абразивами во время производства. Ямки мешают нормальному распространению света.

Пузыри

Пузырьки, образующиеся из-за попадания газов в материал в процессе производства, создают на поверхности круглые или эллиптические углубления, ухудшающие оптические характеристики.

Заусенцы

В процессе обработки образуются острые выступы, которые рассеивают свет и снижают скорость пропускания оптических компонентов.

Сколотые края

Повреждения или неровности по краю оптической детали, обычно возникающие из-за неправильной резки или шлифовки. Сколотые края могут повлиять на краевые эффекты света, тем самым влияя на производительность оптической системы.

Другие дефекты

К ним относятся пятна, вмятины, эрозия и бороздки, часто возникающие из-за чрезмерной механической нагрузки, высокой скорости полировки или гибкости полировальных кругов.

Типы поверхностных дефектов оптических компонентов

ИСО 10110-7:2008

Этот международный стандарт определяет требования к допускам для поверхностных дефектов в оптических компонентах и системах. Он классифицирует поверхностные дефекты, определяет, как они должны быть представлены, и предоставляет критерии для их проверки и оценки.

ГБ/Т 1185-2006

Этот китайский национальный стандарт описывает метод оценки дефектов поверхности оптических компонентов. Стандарт использует обозначение «N×A», где Н представляет собой допустимое количество дефектов и А представляет собой размер дефекта. Он также определяет различные уровни дефектов и соответствующие требования к методам контроля и условиям приемки.

MIL-PRF-13830B

Этот американский военный стандарт определяет технические характеристики для производства, сборки и проверки оптических компонентов, используемых в приборах управления огнем. Дефекты поверхности классифицируются с использованием двух наборов числовых обозначений: «S» для царапин и «D» для выемок. Это обозначение похоже на обозначение в стандарте GB/T 1185-2006, хотя MIL-PRF-13830B уделяет больше внимания размеру царапин и выемок.

Методы контроля поверхностных дефектов

Китайский стандарт (GB/T 1185-2006)

Осмотр проводится с помощью лампы накаливания напряжением 36 В, мощностью 60–108 Вт и увеличительного стекла с увеличением 4×–10×, с использованием проходящего или отраженного света на черном фоне.

Русский Стандарт

Для осмотра используется лампа накаливания мощностью 60–100 Вт с увеличением в зависимости от проверяемой оптической поверхности.

MIL-PRF-13830B

Определены два метода:

  1. Наблюдение за компонентом на фоне матового стекла с использованием источника света мощностью 40 Вт за стеклом и использованием темных горизонтальных полос на стекле для контраста.
  2. Использование проходящего света через матовое стекло для наблюдения за деталью на черном фоне.

Дефекты поверхности и их влияние на оптические характеристики

Дефекты поверхности могут оказывать прямое влияние на общую производительность оптических систем. Царапины, ямки и другие дефекты могут вызывать рассеивание света, что снижает эффективность передачи и увеличивает оптические аберрации. В высокоточных оптических системах даже небольшие дефекты могут привести к значительному ухудшению качества и точности изображения. Например, в телескопах или лазерных системах царапины могут вызывать нежелательную дифракцию, что приводит к снижению разрешения или фокусировки. Кроме того, дефекты, такие как пузырьки или сколы, могут искажать волновой фронт, влияя на четкость систем формирования изображений, таких как камеры или микроскопы.

Чтобы смягчить эти проблемы, производители применяют строгие меры контроля качества, чтобы гарантировать, что дефекты остаются в пределах допустимых уровней. Понимание того, как конкретные дефекты влияют на оптические характеристики, помогает инженерам проектировать более устойчивые системы и снижать вероятность ошибок во время производства.

Передовые технологии обнаружения дефектов поверхности

С развитием оптических технологий появились новые методы обнаружения дефектов поверхности. Эти технологии включают автоматизированный оптический контроль (AOI), интерферометрию и передовые методы микроскопии, которые обеспечивают визуализацию дефектов поверхности с высоким разрешением.

  • Автоматизированный оптический контроль (AOI): Системы AOI используют камеры высокого разрешения и алгоритмы обработки изображений для обнаружения дефектов на оптических поверхностях без вмешательства человека. Это обеспечивает более высокий уровень точности и последовательности в обнаружении дефектов.

  • Интерферометрия: Интерферометры могут обнаруживать дефекты поверхности в нанометровом масштабе, измеряя интерференционную картину световых волн, отражающихся от поверхности. Этот метод особенно полезен для обнаружения незначительных неровностей поверхности, которые могут быть не видны при стандартных методах проверки.

  • Расширенная микроскопия: Такие методы, как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), можно использовать для анализа дефектов на микроскопическом уровне, что позволяет получить представление об их структуре, глубине и влиянии на поверхность.

Эти технологии не только улучшают процесс обнаружения, но и помогают производителям создавать подробные отчеты и системы обратной связи для улучшения производственного процесса и снижения количества дефектов.

Заключение

Поверхностные дефекты оптических компонентов могут существенно ухудшить работу оптической системы. Поэтому для оценки и контроля этих дефектов необходимы строгие стандарты и рекомендации. По мере развития технологий контроля все более эффективные и точные методы обнаружения поверхностных дефектов будут продолжать внедряться в производство и контроль качества оптических компонентов.

Последние статьи

Свяжитесь с нашими экспертами

Мы здесь, чтобы помочь

Запрос цитаты
This site is protected by reCAPTCHA and the Google Privacy Policy and Terms of Service apply.

Экономия вашего времени и средств — наша общая цель.

Доверьте свои потребности в оптических компонентах компании Chinalens Optics, и наша специализированная маркетинговая команда быстро предоставит вам индивидуальный ответ и решение.

Адрес

№ 12 East Yanhe Road, город Яньчэн, провинция Цзянсу, Китай

Позвоните нам

+86-18005107299

Адрес электронной почты

chineselens@foxmail.com

Адрес электронной почты

sales@chineselens.com

начать индивидуальное предложение

Отправьте запрос сегодня

Всплывающее электронное письмо